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                   测量系统分析
                    Measurement Systems Analysis Fourth Edition
                    测量定义Measurement
   就特定特性赋值给具体事物以表示它们之间的关系。赋值过程定义为测量过程，而赋予的值定义为测量值。
                    量具&测量设备
                    量具
   任何用来获得测量结果的装置，通常特指用在车间的装置；包括通过/不通过装置。
                    测量设备
   为实现测量过程所必需的测量仪器、软件、测量标准、标准物质或辅助设备或它们的组合
                    测量系统
   对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合；获得测量结
   果的整个过程。
                    计量型与计数型测量系统
   计量型测量系统的测量结果是连续的。
   计数型测量系统测量值是有限的分级数，通过/不通过量具有两种结果。
                    测量结果-数据
   一组条件下测量结果的集合
   计量型数据 Variable Data
   连续的-- 一个量值和测量单位。
                    计数型数据 Attribute Data
   离散的-- 属性数据或计数数据如成功/失败、好坏、过/不通过等统计数据。
                    分辨力
                    discrimination
   最小的读数的单位、仪器测量输出的最小刻度单位;
   由设计决定的固有特性，以测量单位表示。
                    数据分级数discrimination ratio
   通常称为“分辨力比率”，描述了给定的观察过程变差能可靠地划分为多少级。
                    灵敏度
                    Sensitivity
   导致一个测量装置产生可探测输出信号的最小输入信号。
   仪器应至少和其分辨力单位有同样灵敏度，有灵敏度保证
   的分辨力为有效分辨力。
   灵敏度由量具的设计与维护和操作条件确定。
   灵敏度是用测量单位报告的。
                    分辨力接受准则
   测量系统首先在环境下灵敏度足够探测产品或过程变差。分辨力应将公差或过程变差分成至少十份。
   产品公差的十分之一。
   过程变差-6σ的十分之一。
                    读数原则
   读数装置必须读到和记录到最小的刻度单位
   机械装置读到和记录到最小的刻度单位。
   电子读数，建立记录所显示的有效位数的通用原则。
   模拟读数装置记录到最小刻度的一半。对于模拟装置，最小刻度为0. 01mm”,则测量结果记录到0. 005”。
                    测量系统的统计特性
   为了有效地控制任何过程变差，需要了解：
   过程应该做什么
   什么能导致错误
   过程在做什么
   规范和工程要求规定过程应该做什么。
     过程失效模式及后果分析4（PFMEA）是用来确定与潜在过程失效相关的风险，并在这些失效出现前提出纠正措施。PFMEA的结
   果转移至控制计划。
     通过评价过程结果或参数，可以获得过程正在做什么的知识。这种活动，通常称为检验，是用适当的标准和测量装置，检查
   过程参数，过程中零件，已装配的子系统，或者是已完成的成品活动。这种活动能使观测者确定或否认过程是以稳定的方式操作
   并具有对顾客规定的目标而言可接受的变差这一前提。这种检查行为本身就是过程。
     遗憾的是，工业界传统上视测量和分析活动为“黑盒子”。设备是主要关注点 – 特性越“重要”，量具越昂贵。对仪器的
   有效性，与过程和环境的相容性，仪器的实用性很少有疑问。因此这些量具经常是不能被正确使用或完全不被使用。
     测量和分析活动是一个过程 – 一个测量过程。所有的过程控制管理，统计或逻辑技术均能应用。这就意味着必须首先确定
   顾客和他们的需要。顾客，过程所有者，希望用最小的努力做出正确的决定。管理者必须提供资源以采购对于测量过程来说是充
   分且必要的设备。但是采购最好的或最新的测量技术未必能保证做出正确的生产过程控制决定。
     设备公是测量过程的一部分，过程的所有者必须知道如何正确使用这些设备及如何分析和解释结果。因此管理者也必须提供
   清楚的操作定义和标准以及培训和支持。依次，过程的拥有者有监控和控制测量过程，以确保稳定和正确的义务，这包括全部的
   测量系统分析观点 – 量具的研究、程序、使用者及环境，例如，正常操作条件。
     理想的测量系统在每次使用时，应只产生“正确”的测量系统的统计特性测量结果。每次测量结果总应该与一个标准5相一
   致。一个能产生理想测量结果的测量系统，应具有零方差、零偏倚和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性。遗憾的是，
   具有这样理想统计特性的测量系统几乎不存在，因此过程管理者必须采用具有不太理想统计特性的测量系统。一个测量系统的质
   量经常仅用其多次测量数据的统计特性来确定。其它特性，如成本，使用的容易程度等对一个测量系统总体理想性的贡献也很重
   要。但是，确定一个测量系统质量的正是其产生数据的统计特性。
     在某一用途中最重要的统计特性在另一种用途中不一定是最重要的。例如，对一个三座标测量机（CMM）的某些应用，最重要
   的统计特性是“小”的偏倚和方差。一个具有这些特性的CMM将产生与证明过的、可溯源的标准值“很近”的测量结果。从这样一
   台机器上所得到的数据对分析一个制造过程可能是十分有用的。但是，不管其偏倚和方差多么“小”，使用一台CMM机的测量系统
   可能不能够用于在好的或坏的产品中的分辨接收工作，由于测量系统中其他要素带来了其他变关差源。
   5有关标准问题的完整讨论见《走出危机》，W．Edwards Deming,1982,1986,P．279-281.
     管理者有责任识别对数据的最终使用最重要的统计特,也有责任确保用那些特性作为选择一个测量系统的基础。为了完成这
   些，需要有关统计特性的可操作的定义，以及测量它们的可接受的方法。尽管每一个测量系统可能被要求有不同的统计特性，但
   有一些基本特性用于定义“好的”测量系统。它们包括：
   1) 足够的分辨率和灵敏度。为了测量的目的，相对于过程变差呀规范控制限，测量的增量应该很小。通常所知的十进位或10-1法
   则，表明仪器的分辨率应把公差（过程变差）分为十份或更多。这个规则是选择量具期望的实际最低起点。
   2) 测量系统应该是统计受控制的。6这意味着在可重复条件下，测量系统的变差只能是由于普通原因而不是特殊原因造成。这可
   称为统计稳定性且最好由图形法评价。
   3) 对于产品控制，测量系统的变异性与公差相比必须小。依据特性的公差评价测量系统。
   4) 对于过程控制，测量系统的变异性应该显示有效的分辨率并且与制造过程变差相比要小。根据6σ过程变差和/或来自MSA研究
   的总变差评价测量系统。
     测量系统统计特性可能随被测项目的变化而改变。如果是这样，则测量系统最大的（最坏）变差应小于过程变差和规范控制
   限两者中的较小者。